Рассмотрены научные основы метрологии, принципы обеспечения единства и точности измерений, структурные схемы и конструктивные особенности технических радиоэлектронных ожиуц средств измерений Приведены методики оценки случайных и систематических погрешностей результатов измерений, а также выбора средств измерений с учетом их класса точности Для студентов вузов радиотехнического профиля, а также других специалистов, для которых вопросы метрологии, стандартизации и технических измерений представляют научный и практический интерес Автор Николай Сергеев.  Редактор:Издательство: ИТЦ `МАТИ`, 2008 г Твердый переплет, 360 стр ISBN 978-5-93271-399-0 Тираж: 500 экз Формат: 60x84/16 (~143х205 мм).